似乎已经尘埃落定的“汉芯事件”在“科学道德建设论坛”上再一次被提起。这一次矛头直指事件背后的学术鉴定部门。

　　造假者何以轻易得逞，成果鉴定部门和相关人员是否也该承担责任？中国科学院院士、厦门大学化学系黄本立教授认为“汉芯”造假还有鉴定问题、团队问题和监管问题三问待解。

　　同样让这位老院士感慨的是“肖氏反射弧”理论的鉴定流程。

　　黄本立院士引述媒体报道称，所谓“肖氏反射弧”这种理论在国外仅处于动物试验阶段。令人不可思议的是，1999年、2004年，卫生部门曾两次对“肖氏反射弧”进行科技成果鉴定，结果分别为“国际领先”和“国际先进”，建议推广应用。而据参与2004年卫生部门鉴定的一位专家披露，当时鉴定的时间只有一个下午，鉴定组里肖传国的老师则一开始就大讲“这是国际领先”。

　　一块民工磨出的芯片被鉴定为“达到国际先进水平的高端大规模集成电路”；几个小时鉴定出“国际领先”……对此，黄本立院士分析，一些学术研究、科研开发弄虚作假，显然与这种鉴定体系和机制的漏洞大有干系。

　　“对学术鉴定是否也应来个问责制？”黄本立院士建议：“既要让造假者受到应有的惩罚，也要

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